寿命检测 产品中心- 首页- 您当前的位置:
ZWL-C00(T)多功能温控光衰测试系统
  • 产品概述
  • 技术规格

    ZWL-C00T)多功能温控光衰测试系统是一款对大功率集成封装(COBLED光源在恒温状态下进行光衰老化测试,并可推算光源寿命的一款高性能测试设备。

l  灯源寿命推算:通过中为软件核心算法,可推算出灯源的寿命;

l  卓越恒温功能:通过电热制冷技术,实现高精度(±1.5℃)恒温控制;

l  自主严谨设计,测试性能优越:

Ø  采用国家标准级光度探头,确保数据测试精度

Ø  测试温度10-85℃灵活可调,客户可在不同恒温状态下,检测灯源光衰指数并推算出使用寿命;

Ø  测试时间周期及数据采集频率可灵活设置,方便客户不同需求使用;

l  高性能程控直流电源:

Ø  支持恒流或恒压模式输出,四线制电压量测,参数测量更精准;

l  自主核心算法软件:

Ø  软件界面人性化设计,支持测试数据导出功能,方便客户分析评估;

 

l  测试对象:COB LED,标配最高支持50W灯源;

l  测量参数曲线:软件通过主机采集到的数据,精确绘制光强-温度-时间测试曲线

l  标配4COB恒温测试装置,实现同时测量;

 

产品技术参数:
项目 测试参数 测试范围 测试精度 分辨率
光参数 光强 1-5000cd 3%f.s.+0.1cd 0.1cd
温度 温度 10-85℃ ±1.5℃ 0.1℃
探头V(λ)失配误差:f1'3.5%(一级) 数据采样频率:10-60 秒/次(至少可记录1100小时数据)
光度线性: 0.2% 光度复现性: 0.5%
程控式直流电源参数(选配增加新电源):
支持恒流和恒压双模式输出
规格 30V/5A 75V/2A 150V/1A
额定输出 0~30V,0~5A 0~75V,0~2A 0~150V,0~1A
负载调节率 <0.01%+0.5mV,<0.01%+0.1mA
设置值分辨率 0.5mV,0.1mA 1mV,0.05mA 2mV,0.01mA
回读值分辨率 0.1mV,0.01mA 0.1mV,0.01mA 0.1mV,0.01mA
设置值精度 0.01%+2mV,0.05%+1mA 0.01%+5mV,0.05%+0.5mA 0.01%+15mV,0.05%+0.1mA
回读值精度 0.02%+5mV,0.1%+5mA 0.02%+12mV,0.05%+2mA 0.02%+25mV,0.05%+1mA
纹波 3mvp-p,2mA rms 5mvp-p,1mA rms 10mvp-p,0.5mA rms
电压表精度 0~12V精度:0.02%+2mV;0~50V精度:0.02%+5mV
毫欧表精度 10W 0~1000mΩ精度:0.2%+3mΩ;1000~10000mΩ精度:0.2%+6mΩ
产品规格:
外形尺寸及重量

测试主机:L450mm×W400mm×H190mm  6kg       

 温控装置:L320mm×W225mm×H500mm  10kg   

程控直流电源 :L214mm×W108mm×H365mm  10kg

功率 <1000W 工作电源 单相AC220V±10%/50HZ
通信接口:RS232 环境温度:25±5℃ 环境湿度:0-90%